提出了一种实时高精度获取闪烁晶体折射率的方法，通过面阵CCD相机获取闪烁晶体表面的干涉条纹图样，用阈值算法计算条纹图中暗亮条纹的宽度像素，快速测量出不同晶体干涉条纹移动量，从而计算其折射率。该方法有效地消除相干干扰信号和随机噪声，光路无需再调整。为了验证该方法的可靠性，实验测量了不同批次的BGO晶体和Ce:LYSO晶体样品。结果表明，该方法能够高精度、高效率地测量折射率，为PET探测器模块设计提供了一种可靠的晶体折射率测量方法；适用于可见光波段透明材料的折射率测量。